unizg Pretraga

Skenirajući elektronski mikroskop s EDS detektorom

Proizvođač i model

Tescan, Češka, FE-SEM, Mira II LMU


Lokacija

Zavod za tekstilnu kemiju i ekologiju

  

   

Kontakt osoba:

Prof.dr.sc. Sandra Bischof
sbischof@ttf.unizg.hr

Primjena:

Pretražni/skenirajući mikroskop (SEM) s FE (emisija kroz polje) izvorom elektrona omogućava dobivanje visokorezolucijske slike objekta koji se istražuje. Opremljen je detektorom sekundarnih elektrona (SE), detektorom povratno raspršenih elektrona (BSE), detektorom za snimanje u većoj rezoluciji pri vrlo malim radnim udaljenostima (In-beam SE), detektorom X-zraka za elementnu analizu (EDS), detektorom za analizu električne struje u poluvodičima, integriranim sklopovima, solarnim ćelijama itd. (EBIC), te detektorom za akviziciju TEM slike pomoću SEM mikroskopa (STEM). Mikroskop može raditi u uvjetima niskog vakuuma čime se sprječava površinsko elektrostatsko nabijanje uzorka. Ima široko područje primjene u tehničkim i prirodnim znanostima prilikom analize topografije i morfologije površine uzoraka, distribucije veličine čestica, određivanja dimenzija i homogenosti uzorka, mehaničkih i kemijskih oštećenja materijala, te njihovog kemijskog sastava.


Tehničke značajke:

  • Razlučivost: 1,0-3,0 nm
  • Uvećanje: 4 x-1 000 000 x
  • Elektronski pištolj: Schottky emiter visokog sjaja
  • Karakteristike skeniranja: dinamični fokus, točka & crta sken, 3D svjetlosni snop

Još iz kategorije

Skenirajući elektronski mikroskop s EDS detektorom